Ekitaldiak Mintegiak BCAM Scientific Seminar Multiple and Adaptive Importance Sampling for Bayesian Inference Data: Ar, Urt 9 2018 Lekua: IMT- Institute Mines Telecom Lille Douai, Villeneuve d'Ascq, France Hizlariak: Victor ELVIRA Partekatu whatsapp facebook twitter pinterest linkedin Ez da ekiltaldirik aurkitu.